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成功案例

福祿克過程校準(zhǔn)儀器在鍋爐控制與監(jiān)測系統(tǒng)設(shè)備校驗中的應(yīng)用
用于汽車測試應(yīng)用的福祿克手持式儀表
ScopeMeter福祿克示波表對變頻驅(qū)動系統(tǒng)的準(zhǔn)確測量
諧波檢測、診斷和解決
紅外熱像儀應(yīng)用于LED檢測
LED作為取代傳統(tǒng)照明工具（如白熾燈、鹵素?zé)舻龋┑男滦凸庠矗渖嵝Ч麌?yán)重影響LED的實際使用壽命，散熱工藝成為LED應(yīng)用和發(fā)展的關(guān)鍵因素，紅外熱像儀可以進(jìn)行LED溫度檢測，幫助驗證散熱工藝。
紅外熱像儀應(yīng)用于冰箱制冷劑泄漏檢測
紅外熱像儀應(yīng)用——制造業(yè)/冰箱壓縮機(jī)制冷劑發(fā)生泄漏會造成制冷壓縮機(jī)運轉(zhuǎn)時間延長，蒸發(fā)器結(jié)霜不全或不結(jié)霜，造成產(chǎn)品缺陷；紅外熱像儀可對制冷劑的泄漏位置進(jìn)行**定位，防止產(chǎn)品質(zhì)量事故。
紅外熱像儀應(yīng)用于LED芯片檢測
LED芯片是LED產(chǎn)業(yè)的核心器件，芯片溫度過高會嚴(yán)重影響LED產(chǎn)品質(zhì)量，但芯片及芯片內(nèi)部的溫度分布一直是檢測難點。本文《紅外熱像儀應(yīng)用于LED芯片檢測》主要介紹使用紅外熱像儀以及特殊配件對LED芯片內(nèi)部進(jìn)行檢測，通過對內(nèi)部的溫度分布分析，改善設(shè)計，提高LED...
邏輯分析儀在嵌入式開發(fā)調(diào)試中的應(yīng)用
在嵌入式開發(fā)調(diào)試中，開發(fā)人員的調(diào)試手段包括斷點、觸發(fā)和跟蹤三種。隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展，新一代的嵌入式處理器集成度和工作頻率越來越高，芯片封裝形式也越來越趨向表貼化。在線調(diào)試器(ICD)與邏輯分析儀的組合開發(fā)調(diào)試平臺越來越多地成為廣大的新一代嵌入...
顯示測試解決方案——支持源端、接收端和電纜物理層測試
新的高速串行數(shù)據(jù)顯示技術(shù)簡化了多臺設(shè)備之間的連接，提供了杰出的音頻/視頻質(zhì)量。泰克為各種標(biāo)準(zhǔn)提供了強(qiáng)大完善的一系列測試設(shè)備，包括HDMI、DisplayPort、DiiVA、DVI、等等。
基標(biāo)準(zhǔn)實驗室的建立
當(dāng)發(fā)展中國家開始建立計量基礎(chǔ)設(shè)施或加入國際性組織（例如歐盟）時，就需要建立一個國家計量研究機(jī)構(gòu)（NMI）來進(jìn)行溫度基標(biāo)準(zhǔn)測量。這些 NMI 一般就成為了相關(guān)國家內(nèi)更低級別實驗室的溯源鏈。除了提供可溯源性之外，NMI 還往往為其國家內(nèi)的其它實驗室提供咨詢...

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